| KGD质量和可靠性保障技术 |
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| 引用本文： | 黄云,恩云飞,师谦,罗宏伟.KGD质量和可靠性保障技术[J].半导体技术,2005,30(5):40-43. |
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| 作者姓名： | 黄云 恩云飞 师谦 罗宏伟 |
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| 作者单位： | 信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610;信息产业部电子第五研究所,电子元器件可靠性物理及其应用技术国家级重点实验室,广州,510610 |
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| 摘 要： | 通过裸芯片可靠性保障技术研究,在国内形成了一部完整的已知良好芯片(KGD)质量与司靠性保证程序,建立了从裸芯片到KGD的质量与可靠性保证系统,确立了裸芯片测试、老化和评价技术,实现了工作温度为-55～ 125℃的裸芯片静态、动态工作频率小于100MHz的测试和工作频率小于3MHz的1 25℃动态老化筛选,可保障裸芯片在技术指标和可靠性指标上达到封装成品的等级要求.
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| 关 键 词： | 已知良好芯片 质量 可靠性 测试 老化 |
| 文章编号： | 1003-353X(2005)05-0040-04 |
| 修稿时间： | 2004年7月25日 |
Quality and Reliability Assurance Technology of KGD |
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| HUANG Yun,EN Yun-fei,SHI Qian,LUO Hong-wei.Quality and Reliability Assurance Technology of KGD[J].Semiconductor Technology,2005,30(5):40-43. |
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| Authors: | HUANG Yun EN Yun-fei SHI Qian LUO Hong-wei |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | known-good-die(KGD) quality reliability test aging |
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