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| 低压开关中AgCdO、AgSnO_2触头电弧熄灭和电弧运动特性以及触头磨损机理的研究(Ⅰ) | |
| 引用本文： | 王绍雄.低压开关中AgCdO、AgSnO_2触头电弧熄灭和电弧运动特性以及触头磨损机理的研究(Ⅰ)[J].低压电器,1993(4). |
| 作者姓名： | 王绍雄 |
| 作者单位： | 上海电器科学研究所 200063 |
| 摘 要： | 一、引言新的高功率、小体积电器开关设备的发展,对触头提出了更高的要求。除了主要性能如熔焊力、接触电阻和触头磨损外,在通断时电弧的熄灭和运动特性,也是重要参数。在50A到3000A的交流电流范围内,目前不仅使用AgCdO,而且使用了更耐磨损的AgSnO_2。但因过去接触器是以AgCdO进行优化的,于是就产生了这样的问题:AgCdO是否可以用AgSnO_2完全代替?或者要求在设计上有所改变以优化触头性能。已有报道,AgCdO、AgSnO_2 |
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