金属玻璃剪切带中应力诱导的纳米缺陷形成 |
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作者姓名: | 顾晓峰 王军 秦卫东 寇宏超 李金山 周廉 |
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作者单位: | 1. 江南大学,江苏,无锡,214122 2. 西北工业大学,凝固技术国家重点实验室,陕西,西安,710072 |
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基金项目: | National Natural Science Foundation of China,National Basic Research Program of China,Program for NCETs inUniversity,NSF of Jiangsu Province,Fundamental Research Funds for the Central Universities |
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摘 要: | 以非晶锆基金属玻璃薄带制备透射电子显微镜样品,并利用透射电镜找到在弯曲样品过程中产生的剪切带.高分辨透射电镜技术揭示在剪切带中存在着纳米级的空洞类和高密度区域缺陷.这些缺陷被认为是在机械负载和外应力移除过程中应力激发的自由体积演化而成的,其演化过程可以通过和在相同的金属玻璃样品上的热退火过程作类比来定性地理解.
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关 键 词: | 金属玻璃 透射电子显微镜 剪切带 退火 |
收稿时间: | 2009-06-14 |
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