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微氮直拉硅单晶中氮杂质的施主行为
引用本文:张溪文,杨建松,李立本,阙端麟.微氮直拉硅单晶中氮杂质的施主行为[J].半导体学报,1996,17(10):769-774.
作者姓名:张溪文  杨建松  李立本  阙端麟
作者单位:浙江大学硅材料国家重点实验室
摘    要:氮杂质在微氮直拉硅单晶中引入了不同于热施主(TD)和新施主(TND)的氮关施主(NRD)(nitrogen-relateddonor).其形成于500~900℃,600℃左右最为活跃.短时间热处理时,NRD的形成与消除具有可回复性,并与氮—氮对的可逆变化──对应.随热处理时间的延长,可逆行为逐渐消失.硅中的氮最终固化于稳定的微沉淀态.

关 键 词:掺杂    硅单晶
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