微氮直拉硅单晶中氮杂质的施主行为 |
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引用本文: | 张溪文,杨建松,李立本,阙端麟.微氮直拉硅单晶中氮杂质的施主行为[J].半导体学报,1996,17(10):769-774. |
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作者姓名: | 张溪文 杨建松 李立本 阙端麟 |
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作者单位: | 浙江大学硅材料国家重点实验室 |
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摘 要: | 氮杂质在微氮直拉硅单晶中引入了不同于热施主(TD)和新施主(TND)的氮关施主(NRD)(nitrogen-relateddonor).其形成于500~900℃,600℃左右最为活跃.短时间热处理时,NRD的形成与消除具有可回复性,并与氮—氮对的可逆变化──对应.随热处理时间的延长,可逆行为逐渐消失.硅中的氮最终固化于稳定的微沉淀态.
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关 键 词: | 掺杂 氮 硅单晶 |
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