无铅焊料的电迁移效应 |
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引用本文: | 苏宏,杨邦朝,任辉,胡永达.无铅焊料的电迁移效应[J].混合微电子技术,2008,19(2). |
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作者姓名: | 苏宏 杨邦朝 任辉 胡永达 |
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作者单位: | 电子科技大学微电子与固体电子学院,成都610054 |
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摘 要: | 电迁移是金属原子沿着电流方向的移动。本文阐述了无铅焊料中电迁移的物理特性,由于焊点的特殊几何形状,电流拥挤效应将发生在焊点与导线的接点处;电迁移效应导致无铅焊料中金属间化合物(IMC)的生成与溶解,以及焊点下的金属化层(UBM)的溶解和消耗,使原子发生迁移并会产生孔洞,造成焊点破坏,缩短了焊点平均失效时间(MTTF),从而带来可靠性问题。
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关 键 词: | 无铅焊料 电迁移 电流集聚 金属间化合物 焊点下金属化层 |
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