| 基于AES算法的存储测试系统设计 |
| |
| 引用本文： | 孙汶,朱平.基于AES算法的存储测试系统设计[J].电子技术应用,2015,41(7). |
| |
| 作者姓名： | 孙汶 朱平 |
| |
| 作者单位： | 中北大学电子测试技术国防科技重点实验室,山西太原030051;中北大学仪器科学与动态测试教育部重点实验室,山西太原030051 |
| |
| 摘 要： | 为了实现对存储测试系统在某些应用场合中数据保密的需求,提出了一种基于AES算法的数据加密系统设计方案,并完成了系统的算法仿真与硬件设计。系统的硬件以Xilinx公司的FPGA为主要芯片,实现数据采集与加密功能。采用VHDL语言来描述AES算法的硬件实现,对AES加密系统的整体结构和各个子模块进行了仿真与优化。从仿真测试结果看,完全能够满足存储测试系统的加密要求,达到了设计要求。
|
| 关 键 词： | AES 存储测试 VHDL 加密系统 |
Design of storage testing system based on AES algorithm |
| |
| Sun Wen,Zhu Ping.Design of storage testing system based on AES algorithm[J].Application of Electronic Technique,2015,41(7). |
| |
| Authors: | Sun Wen Zhu Ping |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | AES storage testing VHDL encryption system |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ |
|
