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工作气压对TiO2薄膜结构的影响
引用本文:李哲奎,顾广瑞,孙文斗,李全军,赵永年.工作气压对TiO2薄膜结构的影响[J].延边大学理工学报,2004,30(2):96-99.
作者姓名:李哲奎  顾广瑞  孙文斗  李全军  赵永年
作者单位:[1]延边大学理工学院物理系,吉林延吉133002 [2]延边广播电视大学,吉林延吉133001 [3]吉林大学超硬材料国家重点实验室,吉林长春130012
摘    要:用射频磁控溅射方法以纯金属钛做靶材在氩氧混合气体中制备了TiO2薄膜,Raman光谱测量表明,工作气压从0.2Pa变化到2Pa时,TiO2薄膜的结构由金红石相变化到锐钛矿相,厚度对TiO2薄膜结构没有明显影响.

关 键 词:TiO2薄膜  Raman光谱  金红石  锐钛矿
文章编号:1004-4353(2004)02-0096-04
修稿时间:2004年4月3日

Investigation on structure of TiO2 films sputtered NiMnCo substrates
LI Zhe-kui,GU Guang-rui,SUN Wen-dou,LI Quan-jun,Zhao Yong-nian.Investigation on structure of TiO2 films sputtered NiMnCo substrates[J].Journal of Yanbian University (Natural Science),2004,30(2):96-99.
Authors:LI Zhe-kui  GU Guang-rui  SUN Wen-dou  LI Quan-jun  Zhao Yong-nian
Affiliation:LI Zhe-kui~1,GU Guang-rui~1,SUN Wen-dou~2,LI Quan-jun~1,Zhao Yong-nian~3
Abstract:
Keywords:Titainum dioxide films  Raman spectrum  Rutile  Anatase
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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