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退火温度对铁电薄膜钛酸锶钡的影响
引用本文:郭杰,普朝光,杨明珠,王静宇,阚家德,杨宇.退火温度对铁电薄膜钛酸锶钡的影响[J].红外技术,2003,25(4):88-91.
作者姓名:郭杰  普朝光  杨明珠  王静宇  阚家德  杨宇
作者单位:1. 云南大学材料科学与工程系,云南,昆明,650091;昆明物理研究所,云南,昆明,650223
2. 昆明物理研究所,云南,昆明,650223
3. 云南大学材料科学与工程系,云南,昆明,650091
基金项目:云南省自然科学基金资助项目
摘    要:用醋酸盐和钛酸酯为原料,采用改进的Sol—gel工艺在Pt/Ti/SiO2/Si基片上制备出Ba0.6Sr0.4TiO3(BST)铁电薄膜,然后进一步对薄膜进行退火实验:对(110)方向生长BST薄膜在550~750℃进行恒温退火。X射线衍射分析表明:退火温度在650℃以上时,BST薄膜转变为较为完整的ABO3型钙钛矿晶体结构,更高的退火温度将提高晶体的取向度。

关 键 词:铁电薄膜  钛酸锶钡  退火  X射线衍射  BST
文章编号:1001-8891(2003)04-0088-04
修稿时间:2003年1月2日

Effect of Annealing Temperature on Ferroelectric Barium Strontium Titanate Thin Films
GUO Jie ,PU Chao-guang ,YANG Ming-zhu,WANG Jing-yu,KAN Jia-de ,YANG Yu.Effect of Annealing Temperature on Ferroelectric Barium Strontium Titanate Thin Films[J].Infrared Technology,2003,25(4):88-91.
Authors:GUO Jie    PU Chao-guang  YANG Ming-zhu  WANG Jing-yu  KAN Jia-de  YANG Yu
Affiliation:GUO Jie 1,2,PU Chao-guang 2,YANG Ming-zhu,WANG Jing-yu,KAN Jia-de 1,YANG Yu 1
Abstract:
Keywords:BST    annealing    X rays diffraction
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