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原子力显微镜的发展与表面成象技术
引用本文:郭宁 秦紫瑞. 原子力显微镜的发展与表面成象技术[J]. 理化检验(物理分册), 1998, 34(10): 13-16
作者姓名:郭宁 秦紫瑞
作者单位:大连理工大学 大连116023(郭宁),大连理工大学 大连116023(秦紫瑞)
摘    要:原子力显微镜(AFM)因其具有超高三维分辨,非接触无损成像,显微倍率连续可调等特点,被誉为是目前国际显微宾重大在和现代表面分析技术的革命性能,通过采用AFM对材料的表面实时扫描成象,获得更为真实而丰富三维图像信息,其在材料的表面科学研究领域中将人 应用前景。

关 键 词:原子力显微镜 分辨率 三维形貌 表面成象 AFM

DEVELOPMENT AND SURFACE IMAGING TECHNOLOGY OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY
Guo Ning Qin Zirui. DEVELOPMENT AND SURFACE IMAGING TECHNOLOGY OF ATOMIC FORCE MICROSCOPY[J]. Physical Testing and Chemical Analysis Part A:Physical Testing, 1998, 34(10): 13-16
Authors:Guo Ning Qin Zirui
Affiliation:Dalian University of Technology
Abstract:AFM has advantage of ultra-high 3-D resolution, no damage probing and wide magnification range, is one of the greatest progress in modern surface science and technology. By real-time imaging method, more 3-D morphological information could be obtained through AFM, and this technique will be a powerful approach in study of material's surface.
Keywords:Atomic force microscopy Resolution 3-D morphology  
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