首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

Al/n—GaAs肖特基接触正向脉冲退化对GaAsIC的影响
引用本文:夏世伟,施健.Al/n—GaAs肖特基接触正向脉冲退化对GaAsIC的影响[J].上海微电子技术和应用,1995(2):1-4.
作者姓名:夏世伟  施健
摘    要:本文描述了Al/n-GaAs肖特基接触的正向脉冲退化效应,探讨了当肖特基二极管承受正向电流冲击时,势垒高度ΦB升高,直接影响Al栅MESFETs的特性,导致Al/n-GaAs IC失效的机理。

关 键 词:肖特基接触  正向脉冲效应    砷化镓  集成电路
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号