| FP腔半导体激光器的腔内损耗和准费米能级差的测量 |
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| 引用本文： | 韩春林,刘瑞喜,国伟华,于丽娟,黄永箴.FP腔半导体激光器的腔内损耗和准费米能级差的测量[J].半导体学报,2003,24(8):789-793. |
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| 作者姓名： | 韩春林 刘瑞喜 国伟华 于丽娟 黄永箴 |
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| 作者单位： | 兰州大学物理科学与技术学院，兰州大学物理科学与技术学院，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所，中国科学院半导体研究所 兰州730000，中国科学院半导体研究所，北京100083，兰州730000，北京100083，北京100083，北京100083 |
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| 基金项目： | 国家重点基础研究发展规划资助项目(No.G2 0 0 0 0 3 660 5 )~~ |
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| 摘 要： | 利用一种拟合方法测量FP腔半导体激光器的腔内损耗和准费米能级差.从放大的自发发射谱,利用Cassidy方法得到用于拟合过程的增益谱和单程放大的自发发射谱.利用上述方法,测出的15 5 0nmInGaAsP量子阱脊型波导结构激光器的腔内损耗大约为2 4cm-1.
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| 关 键 词： | 半导体激光器 测量技术 腔内损耗 |
Measurement of Cavity Loss and Quasi-Fermi-Level Separation for Fabry-Pérot Semiconductor Lasers |
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| Han Chunlin,Liu Ruixi,Guo Weihua,Yu Lijuan,HUANG Yongzhen.Measurement of Cavity Loss and Quasi-Fermi-Level Separation for Fabry-Pérot Semiconductor Lasers[J].Chinese Journal of Semiconductors,2003,24(8):789-793. |
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| Authors: | Han Chunlin Liu Ruixi Guo Weihua Yu Lijuan HUANG Yongzhen |
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| Abstract: | |
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| Keywords: | semiconductor lasers measurement technique cavity loss |
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