| 具备兼容性和层次性的SOC测试控制结构设计 |
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| 引用本文： | 鲍芳,赵元富,杜俊. 具备兼容性和层次性的SOC测试控制结构设计[J]. 微电子学, 2008, 38(2): 222-226 |
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| 作者姓名： | 鲍芳 赵元富 杜俊 |
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| 作者单位： | 北京微电子技术研究所,北京,100076 |
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| 摘 要： | IP核的集成问题是SOC设计的关键,测试集成更是无法回避的难题.因此,灵活高效的测试控制结构成为SOC可测性设计的重要研究内容.文章分析了IEEE Std 1149.1对传统IC芯片内部和外部测试的整体控制能力;剖析了IEEE Std 1500TM对嵌入式IP核测试所做规定的标准性和可配置性.在此基础上,提出了一种复用芯片级测试控制器的测试控制结构,该结构能兼容不同类型的IP核,并且有助于实现复杂SOC的层次性测试控制.
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| 关 键 词： | SOC 测试控制结构 IEEE Std 1500 边界扫描 兼容性 层次性 芯片级测试控制器 结构设计 Control Mechanism Test Hierarchical 类型 控制结构 可配置性 标准性 核测试 嵌入式 控制能力 外部测试 IEEE 分析 研究 可测性设计 构成 |
| 文章编号： | 1004-3365(2008)02-0222-04 |
| 修稿时间： | 2007-12-15 |
A Compatible and Hierarchical Test Control Mechanism for SOC |
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| BAO Fang,ZHAO Yuanfu,DU Jun. A Compatible and Hierarchical Test Control Mechanism for SOC[J]. Microelectronics, 2008, 38(2): 222-226 |
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| Authors: | BAO Fang ZHAO Yuanfu DU Jun |
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