| 二次筛选中电子元器件的可靠性保障 |
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| 引用本文： | 廖光朝.二次筛选中电子元器件的可靠性保障[J].电子测试,2007(6):68-70,77. |
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| 作者姓名： | 廖光朝 |
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| 作者单位： | 中国航天科工集团元器件可靠性中心○六一基地分中心,遵义,563003 |
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| 摘 要： | 二次筛选是电子元器件在装机使用前可靠性的重要保障过程,从环境、操作、静电防护、失效分析与破坏性物理分析等方面做好电子元器件的可靠性保障工作,可以避免电子元器件的更多失效和在装机使用后因有隐患而造成失效问题。本文对这些问题进行了深入思考和探索,提出了一些可靠性相关保障措施。
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| 关 键 词： | 可靠性 环境 静电防护 失效分析与破坏性物理分析 |
Electron Components & Devices' Reliability Ensuring in the Second Screening |
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| Liao Guangchao.Electron Components & Devices'''' Reliability Ensuring in the Second Screening[J].Electronic Test,2007(6):68-70,77. |
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| Authors: | Liao Guangchao |
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