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Degradation in polysilicon thin film transistors related to the quality of the polysilicon material |
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| Authors: | H. Toutah B. Tala-Ighil J. F. Llibre B. Boudart T. Mohammed-Brahim O. Bonnaud |
| Affiliation: | a Site Universitaire, LUSAC, BP78, 50130, Octeville, France;b Groupe de Microélectronique, IETR UMR6164, Université de Rennes I, 35042, Rennes, France |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
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