基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别 |
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引用本文: | 祝礼佳,刘桂华,林杰.基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别[J].制造业自动化,2022(3):48-53. |
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作者姓名: | 祝礼佳 刘桂华 林杰 |
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摘 要: | 针对现有的磁瓦表面缺陷识别算法准确率低且泛化能力不足的问题,提出一种基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别算法.该算法在轻量级NASNet卷积神经网络的基础上,引入双线性模型增强网络的特征表达力,提高算法识别精度.其次,为了减少模型参数量与计算量,改进NASNet模型结构进行特征降维.同时采用Adam算法作为网络的优化算法...
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关 键 词: | 缺陷识别 双线性模型 Leaky ReLU激活函数 Adam算法 NASNet |
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