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基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别
引用本文:祝礼佳,刘桂华,林杰.基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别[J].制造业自动化,2022(3):48-53.
作者姓名:祝礼佳  刘桂华  林杰
摘    要:针对现有的磁瓦表面缺陷识别算法准确率低且泛化能力不足的问题,提出一种基于卷积神经网络的磁瓦表面缺陷识别算法.该算法在轻量级NASNet卷积神经网络的基础上,引入双线性模型增强网络的特征表达力,提高算法识别精度.其次,为了减少模型参数量与计算量,改进NASNet模型结构进行特征降维.同时采用Adam算法作为网络的优化算法...

关 键 词:缺陷识别  双线性模型  Leaky  ReLU激活函数  Adam算法  NASNet
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