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| 集成稳压块78M12宽温度范围的噪声测量及谱分析 | |
| 引用本文： | 戴逸松,张新发.集成稳压块78M12宽温度范围的噪声测量及谱分析[J].数据采集与处理,1995,10(A01):21-23. |
| 作者姓名： | 戴逸松 张新发 |
| 摘 要： | 介绍了在温度为３００Ｋ，２７３Ｋ及２０８Ｋ下的集成稳压块７８Ｍ１２的输出噪声测量装置，对测到的器件低频噪声进行成分分析，并根据ｇ－ｒ噪声转折频率绘制了Ａｒｒｈｅｎｉｕｓ图，由此求出了该器件的内部杂质能级。 |
| 关 键 词： | 半导体器件 集成稳压块 噪声测量 谱分析 |
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