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| 文摘选录 | |
| 摘 要： | <正> MOS 级及电子纯试剂分析方法的研究与应用·中国科学院上海冶金研究所七室·中国化学会第二届化学试剂学术会议资料MOS 级或电子纯试剂对杂质元素的要求是10~(-5)～10~(-7)%或更低·本文是用无火焰原子吸收光谱法、感应耦合高频等离子体(ICP)化学光谱法及方波极谱伏安法。对北京化工厂MOS 级、西德Merck MOS 级及上海试剂一厂电子纯试剂进行测定,共分析了15种试剂中15个杂质元素。对Cu、Fe、Zn 还用以上三种测试法进行相互校对工作(分析结果有附表)。(卓) |
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