| 秦山一厂模拟卡件剩余寿命研究 |
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| 引用本文： | 杨晓奇,吴茜,周亮.秦山一厂模拟卡件剩余寿命研究[J].仪器仪表用户,2019(1):52-55,85. |
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| 作者姓名： | 杨晓奇 吴茜 周亮 |
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| 作者单位： | 中广核研究院有限公司北京分公司 |
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| 摘 要： | 秦山核电站1#机组(300MW)1984年开工,自从1991年12月15日并网发电到现在已经20多年了。主控制系统为模拟组装仪表,此系统中很多板卡都已经快到了原有的设计寿命。中广核研究院北京分院受秦山一厂委托,承担30万千瓦机组一批模拟卡件老化分析技术服务。通过老化分析、试验,对卡件进行可靠性分析,从功能角度分析设备及板件的功能可靠性,采用多种分析方法进行,客观全面地评估设备及板件的可靠性,为产品的设计改进、维修等工作提供详细依据。最终通过计算和试验得到该批卡件的使用寿命及剩余寿命。
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| 关 键 词： | 模拟卡件 剩余寿命 老化分析 可靠性 |
Research on Remaining Life of Simulation Cards in Qinshan No.1 Plant |
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| Yang Xiaoqi,Wu Qian,Zhou Liang.Research on Remaining Life of Simulation Cards in Qinshan No.1 Plant[J].Electronic Instrumentation Customer,2019(1):52-55,85. |
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| Authors: | Yang Xiaoqi Wu Qian Zhou Liang |
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| Affiliation: | (Beijing Division,China Nuclear Power Technology Research Institute,Co.,Ltd.,Beijing,100086,China) |
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| Abstract: | Yang Xiaoqi;Wu Qian;Zhou Liang(Beijing Division,China Nuclear Power Technology Research Institute,Co.,Ltd.,Beijing,100086,China) |
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| Keywords: | simulation card remaining life aging analysis reliability |
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