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| X—荧火分析仪晶体表面处理实践 | |
| 引用本文： | 董丽敏,刘安春,陈改明,刘京训.X—荧火分析仪晶体表面处理实践[J].冶金标准化与质量,1998(5). |
| 作者姓名： | 董丽敏 刘安春 陈改明 刘京训 |
| 作者单位： | 安阳钢铁公司 |
| 摘 要： | 引进日本的ＶＸＱ—１５０（Ａ）Ｘ荧光分析仪主要承担公司生铁、炉渣及原材料分析。使用十年来，在公司生铁及原材料分析方面起到了应有的作用。随着使用时间的延长，发现部分元素强度明显下降，经多方面分析与试验，发现造成该现象的主要原因是分析通道里的分光晶体表面... |
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