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| 基于FPGA的存储内建自测试的研究 | |
| 作者姓名： | 薛凯 侯荣彬 李勇 |
| 摘 要： | 本文以SRAM为研究对象,介绍了储存器中常见的几种故障类型以及测试方法.March算法能够对各种储存器常见故障进行检测,但有些故障(比如耦合故障中的字内故障和字间故障)是检测不出来的.通过对现有测试算法的优化,使储存器测试的故障覆盖率更高,并采用硬件描述语言,以FPGA为开发平台,以储存器内建自测试(Memory Bu... |
| 关 键 词： | 硬件描述语言 March SRAM MBIST FPGA |
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