首页 | 本学科首页   官方微博 | 高级检索  
     

4H-SiC SBD和JBS退火研究
作者姓名:闫锐  杨霏  陈昊  彭明明  潘宏菽
作者单位:专用集成电路国家重点实验室,石家庄050051
摘    要:在4H-SiC外延材料上制备了SBD和JBS器件,研究并分析了退火温度对这两种器件正反向特性的影响。结果表明,低于350℃退火可同时提高SBD和JBS的正反向特性。当退火温度高于350℃时,二者的正向特性都出现退化,SBD退化较JBS更为严重。JBS阻断电压随退火温度升高而增大,在退火温度高于450℃时增加趋势变缓。SBD阻断电压随退火温度升高先升后降,在500℃退火时达到一个最大值。可见一定程度的退火有助于提高4H-SiCSBD和JBS器件的正反向特性,但须考虑其对正反向特性的不同影响。综合而言,退火优化后JBS优于SBD器件性能。

关 键 词:4H-SiC肖特基势垒二极管  4H-SiC结势垒肖特基  退火  正向特性  反向特性
本文献已被 维普 等数据库收录!
设为首页 | 免责声明 | 关于勤云 | 加入收藏

Copyright©北京勤云科技发展有限公司  京ICP备09084417号