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带寄生及匹配约束的CMOS模拟电路模块的STACK生成优化方法
引用本文:曾璇,李明原,赵文庆,唐璞山,周电.带寄生及匹配约束的CMOS模拟电路模块的STACK生成优化方法[J].半导体学报,2001,22(1):1-10.
作者姓名:曾璇  李明原  赵文庆  唐璞山  周电
作者单位:[1]复旦大学电子工程系CAD室,上海200433 [2]美国德州大学达拉斯分校电机系,达拉斯750083
基金项目:国家自然科学基金;69928402;
摘    要:模拟电路的性能紧密依赖于版图的寄生参数和匹配特性 .提出了用以描述分布式的寄生电容和由于工艺梯度变化而产生的寄生参数不匹配以及 STACK内连线的不匹配的模型 .基于该模型 ,一种新的 STACK生成方法用来控制版图的寄生参数和匹配特性 ,优化 STACK的形状和确保为所给出的模拟电路模块生成相映的欧拉图 .一个 OPA电路的例子说明了所提出的版图优化方法可以提高诸如单位增益带宽和相位余量等电路性能

关 键 词:模拟约束    模拟电路版图设计    STACK生成
文章编号:0253-4177(2001)01-0001-10

Optimal Stack Generation for CMOS Analog Modules with Parasitic and Mismatch Constraints
Zeng Xuan,LI Ming-yuan,ZHAO Wen-qing,TANG Pu-shan,ZHOU Dian.Optimal Stack Generation for CMOS Analog Modules with Parasitic and Mismatch Constraints[J].Chinese Journal of Semiconductors,2001,22(1):1-10.
Authors:Zeng Xuan  LI Ming-yuan  ZHAO Wen-qing  TANG Pu-shan  ZHOU Dian
Abstract:The performances of analog circuits depend greatly on the layout parasitics and mismatches.Novel techniques are proposed for modeling the distributed parasitic capacitance,parasitic parameter mismatch due to process gradient and the inner stack routing mismatch.Based on the proposed models,an optimal stack generation technique is developed to control the parasitics and mismatches,optimize the stack shape and ensure the generation of an Eulerian graph for a given CMOS analog module.An OPA circuit example is given to demonstrate that the circuit performances such as unit gain bandwidth and phase margin are enhanced by the proposed layout optimization method.
Keywords:analog constraints  analog circuits layout  stack generation
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