| 痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路 |
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| 引用本文： | 谭中奇,龙兴武,李发明. 痕量气体光谱法检测用半导体激光器温度控制电路[J]. 仪器仪表学报, 2006, 27(Z3): 1909-1910 |
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| 作者姓名： | 谭中奇 龙兴武 李发明 |
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| 作者单位： | 国防科技大学,长沙,410073 |
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| 摘 要： | ![]()
本文介绍一种半导体激光器温度控制电路及其辅助调试电路(含软件),电路采用Peltier模块集成温度控制器MAX1978,温控精度约为0.02℃,该电路用于痕量气体光谱法检测系统.
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| 关 键 词： | 半导体激光器 MAX1978 PID 痕量气体检测 |
Temperature control circuit of semiconductor laser for the spectroscopy detection of trace gas |
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| Tan Zhongqi,Long Xingwu,Li Faming. Temperature control circuit of semiconductor laser for the spectroscopy detection of trace gas[J]. Chinese Journal of Scientific Instrument, 2006, 27(Z3): 1909-1910 |
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| Authors: | Tan Zhongqi Long Xingwu Li Faming |
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| Abstract: | ![]()
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