| 行波管放大链中关键气密材料的失效分析 |
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| 引用本文： | 周勋,左长明,荣丽梅. 行波管放大链中关键气密材料的失效分析[J]. 材料导报, 2007, 21(9): 157-159 |
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| 作者姓名： | 周勋 左长明 荣丽梅 |
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| 作者单位： | 电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054;电子科技大学电子薄膜与集成器件国家重点实验室,成都,610054 |
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| 摘 要： | ![]()
行波管放大链中关键气密材料的气密性与行波管放大链的性能有密切的联系,分别用IRS、XRD、XPS、SEM和EDS等对该气密材料镍铜合金进行了一系列的失效分析,对影响其气密性的因素做了相应的探讨.结果表明:锰的氧化物在晶界处析出会明显弱化镍铜合金的晶界内聚力,进而致使晶间发生断裂,气密性变差.
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| 关 键 词： | 行波管 气密性 镍铜合金 偏析 晶间断裂 |
Invalidation Analysis on the Key Gas-proof Material Used in Travelling Wave Tube Amplifier Chain |
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| ZHOU Xun,ZUO Changming,RONG Limei. Invalidation Analysis on the Key Gas-proof Material Used in Travelling Wave Tube Amplifier Chain[J]. Materials Review, 2007, 21(9): 157-159 |
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| Authors: | ZHOU Xun ZUO Changming RONG Limei |
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| Affiliation: | State Key Laboratory of Electronic Thin Films and Integrated Devices, University of Electronic Science and Technology of China, Chengdu 610054 |
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| Abstract: | ![]()
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| Keywords: | travelling wave tube gas-proof property Ni Cu alloy segregation intergranular |
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