| Arrhenius 程应用新方法研究 |
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| 引用本文： | 马卫东,吕长志,李志国,郭春生,郭敏,李颖. Arrhenius 程应用新方法研究[J]. 微电子学, 2011, 41(4) |
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| 作者姓名： | 马卫东 吕长志 李志国 郭春生 郭敏 李颖 |
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| 作者单位： | 北京工业大学电子信息与控制工程学院可靠性研究室,北京,100124 |
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| 摘 要： | 提出了一种快速评价电子元器件的新方法,该方法具有快速、准确、成本低、效率高等优点.利用Arrhenius方程,能快速准确地确定元器件退化的失效敏感参数和退化机理；可对单样品求出与失效机理相关的失效激活能和寿命；通过多样品试验,可得到寿命分布、寿命加速特性和失效率等可靠性参数.以DC/DC电源变换器和高频小功率管3DG130为例,通过实验与现场数据的对比,证明了新方法的正确性和有效性.该方法适用于失效率优于10-7/h(λ＜10-7/h)的高可靠性产品的定量评价.
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| 关 键 词： | Arrhenius方程 恒定电应力温度斜坡法 激活能 |
Study on a New Evaluation Method Using Arrhenius Equation |
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| MA Weidong,Lü Changzhi,LI Zhiguo,GUO Chunsheng,GUO Min,LI Ying. Study on a New Evaluation Method Using Arrhenius Equation[J]. Microelectronics, 2011, 41(4) |
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| Authors: | MA Weidong Lü Changzhi LI Zhiguo GUO Chunsheng GUO Min LI Ying |
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