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| ASIC用的新型测试设备 | |
| 作者姓名： | 肖虹 |
| 摘 要： | 美国加利福尼亚州的Agoura Hill的Teradyne Semiconductor Test事业部成功地开发了一种高性能的VLSI测试设备,它的型号名称是“J921”,这是一种专门用于检测ASIC(专用集成电路)的新型设备.它的I/O管脚数最多可以达到512个,最大的工作频率为150MHz,最大的数据传输率为300MHz,边缘放置精度为±300ps,而且扫描路线的测试还可以由系统选择. |
| 本文献已被 CNKI 等数据库收录！ | |
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