| 镍基合金DD10中γ/γ'晶格错配度厚度效应的X射线衍射分析 |
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| 引用本文： | 王有道,吴尔冬,王苏程,李武会.镍基合金DD10中γ/γ'晶格错配度厚度效应的X射线衍射分析[J].金属学报,2011(11). |
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| 作者姓名： | 王有道 吴尔冬 王苏程 李武会 |
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| 作者单位： | 中国科学院金属研究所沈阳材料科学国家(联合)实验室; |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金项目51071157; 国家高技术研究发展计划项目2009AA03Z535资助~~ |
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| 摘 要： | 利用四轴X射线衍射仪(XRD)测定片状DD10镍基单晶高温合金减薄至不同厚度时基体相(γ)和沉淀强化相(γ′)的晶格常数.根据减薄过程中两相间约束变化得到晶格常数和错配度变化规律,计算出合金从三维块体错配应力状态向二维平面应力状态转化达到失稳状态的临界厚度以及与不同应力状态对应的晶格错配度.依照一定的假设条件,推算出与应力松弛条件对应的无错配应力状态下两相的晶格常数.分析结果表明:合金减薄达到临界厚度后,γ′相晶格常数随厚度减小而线性变小,γ相晶格常数无明显变化,与此对应的晶格错配度绝对值变大;减薄过程伴随γ/γ′两相间约束的减弱和相间微观应力松弛,晶格取向差和晶体嵌镶度增大,表层应力状态向平面应力状态转化.测量得到的临界厚度与无错配应力状态下的晶格常数可为高温合金单晶材料的应用设计和残余应力测试提供参考.
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| 关 键 词： | 镍基单晶高温合金 晶格常数 晶格错配度 XRD |
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