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带有原位生长SiNx绝缘层的AlN/GaN毫米波高效率MIS-HEMT器件(英文)
引用本文:陈晓娟,张一川,张昇,李艳奎,牛洁斌,黄森,马晓华,张进成,魏珂.带有原位生长SiNx绝缘层的AlN/GaN毫米波高效率MIS-HEMT器件(英文)[J].红外与毫米波学报,2023,42(4):483-489.
作者姓名:陈晓娟  张一川  张昇  李艳奎  牛洁斌  黄森  马晓华  张进成  魏珂
作者单位:西安电子科技大学,陕西 西安 710071;中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,中国科学院微电子研究所,北京 100029,西安电子科技大学,陕西 西安 710071,西安电子科技大学,陕西 西安 710071,中国科学院微电子研究所,北京 100029
基金项目:Supported by the National Natural Science Foundation of China (61822407, 62074161, 62004213); the National Key Research and Development Program of China under (2018YFE0125700)
摘    要:本文采用金属有机化学气相沉积(MOCVD)生长原位SiNx栅介质制备了用于Ka波段高功率毫米波应用的AlN/GaN金属绝缘体半导体高电子迁移率晶体管(MIS-HEMTs)。原位生长SiNx栅介质显著抑制了栅反向漏电、栅介质/AlN界面态密度和电流坍塌。所研制的MIS HEMTs在VGS=2 V时最大饱和输出电流为2.2 A/mm,峰值跨导为509 m S/mm,在VGS=-30 V时肖特基栅漏电流为4.7×10-6 A/mm。采用0.15μm T形栅技术,获得98 GHz的fT和165 GHz的fMAX。大信号测量表明,在连续波模式下,漏极电压VDS=8 V时,MIS HEMT在40 GHz下输出功率密度2.3 W/mm,45.2%的功率附加效率(PAE),而当VDS增加到15 V时,功率密度提升到5.2 W/mm,PAE为42.2%。

关 键 词:AlN/GaN  金属绝缘体半导体高电子迁移率晶体管  Ka波段  低损耗  低偏压
收稿时间:2022/6/22 0:00:00
修稿时间:2023/3/23 0:00:00

High-efficiency AlN/GaN MIS-HEMTs with SiNx insulator grown in-situ for millimeter wave applications
CHEN Xiao-Juan,ZHANG Yi-Chuan,ZHANG Shen,LI Yan-Kui,NIU Jie-Bin,HUANG Sen,MA Xiao-Hu,ZHANG Jin-Cheng and WEI Ke.High-efficiency AlN/GaN MIS-HEMTs with SiNx insulator grown in-situ for millimeter wave applications[J].Journal of Infrared and Millimeter Waves,2023,42(4):483-489.
Authors:CHEN Xiao-Juan  ZHANG Yi-Chuan  ZHANG Shen  LI Yan-Kui  NIU Jie-Bin  HUANG Sen  MA Xiao-Hu  ZHANG Jin-Cheng and WEI Ke
Abstract:
Keywords:
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