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| 低能γ射线反散射法测量塑料薄膜厚度的研究 | |
| 引用本文： | 苏海林,赵娣.低能γ射线反散射法测量塑料薄膜厚度的研究[J].自动化技术与应用,2002(1):61-62. |
| 作者姓名： | 苏海林 赵娣 |
| 作者单位： | 1. 黑龙江省科学院技术物理研究所 2. 哈尔滨高科技房屋开发公司 |
| 摘 要： | 本文叙述了低能γ射线反散射法测量塑料薄膜的可能性，建立了塑料薄膜厚度与反散射γ射线强度的关系式。研制了一套测量装置，并对测量误差进行了分析。 |
| 关 键 词： | 低能γ射线 反散射法 塑料 薄膜 厚度 |
| 文章编号： | 1003-7241(2002)01-0061-02 |
A Study on Measuring Thickness of Plastic Film by Low-energy γ-ray Backscattering Techniques |
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