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基于虚拟制造技术的集成电路工艺设计优化
引用本文:王镇,王纪民. 基于虚拟制造技术的集成电路工艺设计优化[J]. 微电子学, 2002, 32(3): 172-174
作者姓名:王镇  王纪民
作者单位:清华大学,微电子学研究所,北京,100084
摘    要:
采用虚拟制造技术对0.8μm双阱LPLV CMOS工艺进行优化,确定了主要的工艺参数。在此基础上,对全工艺过程进行仿真,得到虚拟制造器件和软件测试数据,所得结果与实测数据吻合得很好。

关 键 词:虚拟制造技术 集成电路 工艺设计优化
文章编号:1004-3365(2002)03-0172-03
修稿时间:2001-07-10

Optimizing IC Process Design with Virtual Fabrication
WANG Zhen,WANG Ji ming. Optimizing IC Process Design with Virtual Fabrication[J]. Microelectronics, 2002, 32(3): 172-174
Authors:WANG Zhen  WANG Ji ming
Abstract:
Keywords:CMOS Device  Virtual fabrication  Process simulation  Process optimization
本文献已被 CNKI 维普 万方数据 等数据库收录!
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