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H+离子敏场效应传感器的SPICE模型仿真分析
引用本文:高俊山,林国锋,孙真和.H+离子敏场效应传感器的SPICE模型仿真分析[J].自动化技术与应用,2007,26(1):106-107.
作者姓名:高俊山  林国锋  孙真和
作者单位:哈尔滨理工大学,黑龙江,哈尔滨,150080
摘    要:本文从离子敏场效应晶体管(ISFET)的传感机理出发,利用计算机辅助设计软件(SPICE)建立了ISFET的物理模型。借助此模型,对器件的电学行为进行了模拟,仿真结果与实验数据取得了良好的一致性。

关 键 词:器件模型  离子敏场效应晶体管  计算机辅助设计
文章编号:1003-7241(2007)01-0106-03
修稿时间:2006年8月15日

The SPICE Model for H+ Ion-sensitive Field Effect Transistor
GAO Jun-shan,LIN Guo-feng,SUN Zhen-he.The SPICE Model for H+ Ion-sensitive Field Effect Transistor[J].Techniques of Automation and Applications,2007,26(1):106-107.
Authors:GAO Jun-shan  LIN Guo-feng  SUN Zhen-he
Abstract:This paper presents a SPICE model of Ion-sensitive field effect transistor (ISFET) based on the computer aided design tool(SPICE)Simulation results are given.
Keywords:device model  ion-sensitive field effect transistor(ISFET)  computer aided design
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