CMOS电路功耗电流构成及测试方法 |
| |
引用本文: | 栗学忠.CMOS电路功耗电流构成及测试方法[J].微处理机,1996(1):87-89. |
| |
作者姓名: | 栗学忠 |
| |
作者单位: | 电子工业部东北微电子研究所!沈阳110032 |
| |
摘 要: | 该文介绍了CMOS器件功耗电流由三部分构成,扼要叙述了形成静态电流、动态电流以及附加静态电流的机理;举例介绍了附加静态电流的计算方法,对于如何利用大规模集成电路测试系统去测量三种电流也作了相应说明。文章还具体介绍了通过测试CMOS静态功耗电流,发现其内部缺陷,将早期失效的电路筛选出来,以提高整机可靠性。
|
关 键 词: | CMOS 功耗电流 静态电流 测试系统 |
本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录! |
|