|
|||||
|
|
| 在设计中使用边界扫描 | |
| 作者姓名： | Jon Titus |
| 作者单位： | ECN资深技术编辑 |
| 摘 要： | 大多数电子工程师都了解边界扫描(边界扫描有时也称为JTAG、Scan和B-Scan),但可能许多人在设计中并没有使用这种用途广泛的测试技术.边界扫描也称为IEEE1149,它可提供许多好处,远远不止是测试印刷电路板(PCB)上的导线连接状态.设计人员现在利用边界扫描技术来初始化内建自测试(BIST)操作、编程闪存器件、检查模拟器件以及测试高速串行路径. |
Got Boundary Scan? |
|
| Jon Titus.Got Boundary Scan?[J].Electronic Engineering & Product World,2004(22):70-73. | |
| Authors: | Jon Titus |
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录！ | |