|
|||||
|
|
| 介绍一种高性能低价格的通用数字IC测试仪 | |
| 引用本文： | 韩树梁.介绍一种高性能低价格的通用数字IC测试仪[J].电子测试,1995,9(1):20-22. |
| 作者姓名： | 韩树梁 |
| 作者单位： | 赛格研究开发院 |
| 摘 要： | IC测试仪分为两类,一类是专用IC测试仪,另一类是通用IC测试仪。专用IC测试仪只用于某一特定产品,其优点是结构简单因而制做成本低;缺点是设计投入高,仪器精度较低而且没有灵活性。如果该产品停止生产,就会造成浪费。通用IC测试仪一般性能优异,一台仪器可测试多种产品,但是价格较高,通常每台售价达数万至数十万美元,高性能的IC测试系统售价更达数百万美元。为解决这一难题,华智(香港)有限公司集十年IC测试方面的经验,于1993年10月研制成功了一种高性能低价格的通用数字IC测试 |
| 关 键 词： | 数字测试 集成电路 测试仪 |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ | |