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脉冲激光沉积ZnO及其掺杂薄膜的研究
引用本文:赵跃智 张俊. 脉冲激光沉积ZnO及其掺杂薄膜的研究[J]. 中国材料科技与设备, 2007, 4(4): 44-45,49
作者姓名:赵跃智 张俊
作者单位:洛阳理工学院材料系,河南洛阳471000
摘    要:本文用脉冲激光沉积(PLD)法在SiO2基片上制备了ZnO薄膜和Zn1-xMnxO薄膜。X射线衍射、原子力显微镜、紫外-可见分光光度计对ZnO薄膜的测试结果表明:薄膜具有(103)面的择优取向,表面比较平坦;SiO2基片上制备的薄膜在387nm附近存在明显的吸收边,且薄膜的吸收对基片温度变化不明显。通过对Zn1-xMnxO薄膜的吸收光谱分析得出:Mn离子的掺杂改变了ZnO薄膜的禁带宽度,随Mn离子的掺杂量的增加,薄膜禁带宽度增加;薄膜的光吸收也从直接跃迁过渡为间接跃迁过程。

关 键 词:PLD ZnO薄膜 Zn1-xMnxO薄膜 光吸收谱

Investigation of ZnO and Doped ZnO Thin Films by Pulsed Laser Deposition
ZHAO Yue-zhi , ZHENG Jun. Investigation of ZnO and Doped ZnO Thin Films by Pulsed Laser Deposition[J]. Chinese Materials Science Technology & Equipment, 2007, 4(4): 44-45,49
Authors:ZHAO Yue-zhi    ZHENG Jun
Abstract:
Keywords:PLD, ZnO thin films    Zn1-xMnxO thin films    Absorption spectra
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