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| 阶跃电压法确定产生寿命的计算公式 | |
| 引用本文： | 丁扣宝,赵荣荣.阶跃电压法确定产生寿命的计算公式[J].微电子学,1997,27(3):186-189. |
| 作者姓名： | 丁扣宝 赵荣荣 |
| 作者单位： | 浙江大学材料系(丁扣宝)，上海船舶电子设备研究所(赵荣荣)，杭州大学电子工程系(张秀淼) |
| 基金项目： | 硅材料国家重点实验室资助 |
| 摘 要： | 采用一个最近发展起来的产生区宽度模型，导出了描述阶跃电压作用下ＭＯＳ电容器的电容－时间瞬态特性方程，给出了阶跃电压法确定产生寿命的一个计算公式。 |
| 关 键 词： | 产生寿命 阶跃电压法 器件物理 MOS器件 |
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