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| 嵌入式存储器的多故障自修复方法 | |
| 作者姓名： | 徐向峰 王友仁 张砦 孔德明 |
| 作者单位： | (南京航空航天大学 自动化学院,江苏 南京 210016) |
| 基金项目： | 国家自然科学基金,航空科学基金 |
| 摘 要： | 使用冗余行覆盖占故障总数70%的单故障,导致冗余资源的浪费.为提高冗余资源的利用率,提出一种高效的修复方案,即冗余行覆盖多故障,纠错码修复单故障.当采用码率大于1/2的纠错码修复单故障时,校验住的长度小于冗余行的长度,节约了面积开销.通过2~4×8比特静态随机存取存储器(SRAM)的自修复实验,验证了新方案的可行性.实验结果表明,与冗余行结构相比,新的修复方案可以减小面积开销,提高芯片的最大工作频率. |
| 关 键 词： | 芯片系统 嵌入式存储器 内建自测试 内建自修复 冗余行 纠错码 |
| 修稿时间： | 1900-01-01 |
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