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| 集成电路测试标准数字化进程——以硅片测试标准为例 | |
| 作者姓名： | 孙新乐 李欣萌 王振宇 王立玺 |
| 作者单位： | 1. 北京大学;2. 中国电子技术标准化研究院 |
| 摘 要： | 围绕集成电路测试标准数字化建设，结合标准数字化深层需求，以硅片测试标准数字化建设进程为例进行分析，提出集成电路测试标准数字化不仅体现在标准形式的数字化，还应将标准方法数字化。 |
| 关 键 词： | 集成电路 硅片 测试 标准 标准数字化 |
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