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脉冲激光沉积法制备的Ge(S90Se10)2硫系薄膜中的光致漂白效应研究
引用本文:周学东,董国平,肖秀娣,陶海征,赵修建,潘瑞琨. 脉冲激光沉积法制备的Ge(S90Se10)2硫系薄膜中的光致漂白效应研究[J]. 材料科学与工程学报, 2007, 25(1): 18-21
作者姓名:周学东  董国平  肖秀娣  陶海征  赵修建  潘瑞琨
作者单位:武汉理工大学硅酸盐材料工程教育部重点实验室,湖北,武汉,430070
基金项目:国家自然科学基金 , 教育部长江学者和创新团队发展计划 , Opening Fund of Key Laboratory of Silicate Materials Science and Engineering ( Wuhan University of Technology) , 教育部资助项目
摘    要:
运用激光脉冲沉积法(PLD)制备了Ge(S90Se10)2薄膜,通过运用紫外汞灯对制备的薄膜进行不同时间的辐照,我们确定了达到饱和状态所需要的辐照时间(90分钟)。当薄膜处于饱和状态时,巨大的光致漂白效应被观察到了(△E=0.36ev)。此外,在本文中,我们也对光致漂白效应的机理进行了阐述,一种新型的光电子材料被发现了。

关 键 词:激光脉冲沉积法(PLD)  光致漂白  Ge(S90Se10)2薄膜  能隙
文章编号:1673-2812(2007)01-0018-04
修稿时间:2006-04-20

Photo-bleaching in Ge(S90Se10)2 Chalcogenide Films Prepared by Pulsed Laser Deposition
ZIIOU Xue-dong,DONG Guo-ping,XIAO Xiu-di,TAO Hai-zheng,ZHAO Xiu-jian,PAN Rui-kun. Photo-bleaching in Ge(S90Se10)2 Chalcogenide Films Prepared by Pulsed Laser Deposition[J]. Journal of Materials Science and Engineering, 2007, 25(1): 18-21
Authors:ZIIOU Xue-dong  DONG Guo-ping  XIAO Xiu-di  TAO Hai-zheng  ZHAO Xiu-jian  PAN Rui-kun
Abstract:
Using the pulsed laser deposition (PLD) technique, Ge(S90Se10)2 films were prepared. After illuminating the film for different time with Hg arc lamp, the saturation state (illuminated time = 90min) was ascertained, and the huge photo-bleaching phenomenon is observed (△E = 0.36ev) at the saturation state. Furthermore, the mechanism of photo-bleaching is also studied. A novel type of photoelectron materials is discovered.
Keywords:PLD  photo-bleaching  Ge(S_(90)Se_(10))_2 film  Eg
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