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集成电路测试仪器述评
引用本文:董宗光.集成电路测试仪器述评[J].电子测量技术,1981(2).
作者姓名:董宗光
摘    要:随着我国集成电路工业的迅速发展,集成电路的应用日益广泛。集成电路的测试问题也日益增多。为了解决这些问题,我国各部门的集成电路测试人员研制了各种各样的集成电路测试仪器,取得了很多成果。一九八○年举行了我国首届半导体集成电路测试学术交流会,交流了我国多年来发展集成电路测试技术和研制集成电路测试仪器的经验,涉及各种集成度的数字电路特别是中规模逻辑电路、大规模集

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