|
|||||
|
|
| IEC/TC65/SC65B 2008年会(东京)会议纪要(IEC/TC65/SC65B中国代表团) | |
| 摘 要： | 1 参会人员 2008年5月20日,IEC/TC65/SC65B(装置和过程分析)2008年年会在日本东京举行.出席本次会议的中国代表有:国家标准化管理委员会刘大山;机械工业仪器仪表综合技术经济研究所欧阳劲松、梅恪;北京分析仪器研究所马雅娟;西克麦哈克(北京)仪器有限公司方培基、姜培刚;聚光科技(杭州)有限公司郭晓维、王健;广州飒特电力红外技术有限公司吴一冈;上海工业自动化仪表研究所范铠、李明华等. |
Report of the IEC TC65/SC65B in Tokyo |
|
| Abstract: | |
| Keywords: | |
| 本文献已被 万方数据 等数据库收录！ | |