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影干涉光刻技术
引用本文:童志义.影干涉光刻技术[J].电子工业专用设备,1998,27(4):54-59.
作者姓名:童志义
摘    要:采用λ/2的光束复制出了更高分辨率极限的线间图形,它将电路图形的CD尺寸极限推进到λ/4,当采用193nm光源曝光时,CD尺寸为50nm以下。干涉光刻技术(IL)探讨了这种周期性图形的最终极限。影像干涉光技术未来的发展,将使光学方法100nm 下的电路图形成为可能。

关 键 词:影像干涉光刻  光刻技术  ULSI  IC
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