| 基于HALT和HASS试验的可靠性技术发展概述 |
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| 引用本文： | 张玲,罗雨薇,邱忠文. 基于HALT和HASS试验的可靠性技术发展概述[J]. 电子产品可靠性与环境试验, 2022, 40(1): 87-91. DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2022.01.019 |
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| 作者姓名： | 张玲 罗雨薇 邱忠文 |
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| 作者单位： | 中国电子科技集团公司第二十四研究所,重庆 400060,中电科技集团重庆声光电有限公司,重庆 400060 |
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| 摘 要： |
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| 关 键 词： | 高加速寿命试验 高加速应力筛选 寿命试验 |
Review of the Development of Reliability Technology Based on HALT and HASS |
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| ZHANG Ling,LUO Yuwei,QIU Zhongwen. Review of the Development of Reliability Technology Based on HALT and HASS[J]. Electronic Product Reliability and Environmental Testing, 2022, 40(1): 87-91. DOI: 10.3969/j.issn.1672-5468.2022.01.019 |
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| Authors: | ZHANG Ling LUO Yuwei QIU Zhongwen |
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| Abstract: | |
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