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分子束外延低温生长GaAs缓冲层及性能研究
作者姓名:梁基本  孔梅影  王占国  朱战萍  段维新  王春艳  张学渊  曾一平
作者单位:中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室,中国科学院半导体研究所半导体材料科学实验室 北京 100083,北京 100083,北京 100083,北京 100083,北京 100083,北京 100083,北京 100083,北京 100083
摘    要:用国产分子束外延设备(Ⅳ型),在低温(200—300℃)下生长了GaAs,AlGaAs和GaAs-AlGAs超晶格。本文着重提出对在低温生长GaAs缓冲层上生长优质GaAs有源层,尤其对缺陷和杂质很敏感的高电子迁移率晶体管结构材料进行研究。

关 键 词:砷化镓 外延生长 缓冲层
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