| 模拟电路故障的一种聚类二叉树支持向量机诊断新方法 |
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| 引用本文： | 崔江,王友仁.模拟电路故障的一种聚类二叉树支持向量机诊断新方法[J].仪器仪表学报,2008,29(10). |
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| 作者姓名： | 崔江 王友仁 |
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| 作者单位： | 南京航空航天大学自动化学院,南京,210016 |
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| 基金项目： | 国家自然科学基金，航空基础科学基金 |
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| 摘 要： | 针对模拟电路故障特征样本的分类(诊断)问题.提出了一种基于聚类二叉树支持向量机(SVMs)多分类器的故障诊断新方法,并分析了几种分类器的平均测试复杂度.首先,利用自组织特征映射神经网络(SOFM)对训练样本进行层次聚类.得到一棵聚类二叉树;其次,按照树的结构利用二元SVMs设计故障分类器,并对样本进行分组训练和测试.实际仿真和测试表明.所设计的故障分类器性能在诊断精度和效率上皆优于传统的"1-v-r"SVMs和"1-v-1"SVMs分类器,较为适合模拟电子电路的故障分类和诊断.
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| 关 键 词： | 模拟电路 故障诊断 自组织特征映射神经网络 二叉树 二元SVMs |
Novel method for analogue circuit fault diagnosis based on clustering binary tree SVMs |
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| Cui Jiang,Wang Youren.Novel method for analogue circuit fault diagnosis based on clustering binary tree SVMs[J].Chinese Journal of Scientific Instrument,2008,29(10). |
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| Authors: | Cui Jiang Wang Youren |
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