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| 基于ATE的FPGA测试方法 | |
| 引用本文： | 吉国凡,赵智昊,杨嵩.基于ATE的FPGA测试方法[J].电子测试,2007,12(12):43-46. |
| 作者姓名： | 吉国凡 赵智昊 杨嵩 |
| 摘 要： | 本文以Xilinx公司基于SRAM的FPGA XC4010为研究对象,将FPGA配置成两种电路来完成对可编程逻辑模块(CLB)的测试,并阐述了如何在Teradyne商用ATE(Automatic Test Equipment)J750上实现FPGA的在线配置及测试,为FPGA面向应用的测试提供一种有效的方法. |
| 关 键 词： | 测试 配置 |
FPGA Testing Approach Based on ATE |
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| Ji guofan,zhao zhihao,yangsong.FPGA Testing Approach Based on ATE[J].Electronic Test,2007,12(12):43-46. | |
| Authors: | Ji guofan zhao zhihao yangsong |
| Abstract: | |
| Keywords: | FPGA CLB |
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