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| 利用KD~*P晶体的电光效应测量微小双折射程差 | |
| 引用本文： | 姚广涛,张兰敏,王群力,施晓龙.利用KD~*P晶体的电光效应测量微小双折射程差[J].激光与红外,1984(10). |
| 作者姓名： | 姚广涛 张兰敏 王群力 施晓龙 |
| 作者单位： | 山东大学，山东大学 1983年毕业生，1983年毕业生 |
| 摘 要： | 利用KD~*P晶体的一次电光效应对晶片由双折射引起的光程差做连续补偿,一般将待测晶片的双折射程差补偿到Kλ/2,K=0、±1、±2…,λ为光源波长。由KD~*P晶体上所加电压V_2与由V_2产生的双折射程差δKD~*P的线性数值关系,求出对待测晶片所补偿的双折射程差,从而求出待测晶片的双折射程差δX。采用本实验装置,可以标定1/4波片以及双折射程差小于λ的晶片,精度在±10A之内。 |
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