从历届北京分析测试学术报告和展览会(BCEIA)看X射线能谱仪的现状和发展趋势 |
| |
引用本文: | 章一鸣.从历届北京分析测试学术报告和展览会(BCEIA)看X射线能谱仪的现状和发展趋势[J].电子显微学报,1990(1). |
| |
作者姓名: | 章一鸣 |
| |
作者单位: | 中国科学院科学仪器厂 |
| |
摘 要: | 1984年本文作者在参加了匹兹堡会议以后,曾在本刊发表的文章中预测X射线能谱仪已经进入了一个新的发展阶段。除了元素分析以外,能谱仪将不断地开发新的综合的显微分析功能,而图象处理和图象分析是其一个主要方面。自此以后,在中国于1985、1987和1989年召开了三届北京分析测试学术报告和展览会(BCEIA),会上所展示的能谱仪充分证实了上述预测。在这5年内各公司生产的能谱仪无不在图象处理和图象分析方面大下功夫,并不断于以扩展和提高(见表1)。
|
本文献已被 CNKI 等数据库收录! |
|