| n型HgCdTe晶片少子寿命分布的小光点测量 |
| |
| 引用本文： | 邵式平,李汉宾.n型HgCdTe晶片少子寿命分布的小光点测量[J].红外技术,1995,17(4):31-33,48. |
| |
| 作者姓名： | 邵式平 李汉宾 |
| |
| 作者单位： | 昆明物理研究所，云南光学仪器厂 |
| |
| 摘 要： | 用聚焦的激光光点（宽度约为０．１ｍｍ）测量了ｎ型Ｈｇ１－ｘＣｄｘＴｅ（ｘ＝０．２）长条状薄片样品的少数载流子寿命沿样品长条方向的分布，结果表明分布是不均匀的，讨论了引起这种不均匀的可能原因。
|
| 关 键 词： | 少数载流子寿命 小光点测量 汞 镉 碲 |
Measurement of Minority Carrier Lifetime Distribution in n-type HgCdTe Wafer with a Small Spot Apparatus |
| |
| Shao Shiping, Xue Nanping.Measurement of Minority Carrier Lifetime Distribution in n-type HgCdTe Wafer with a Small Spot Apparatus[J].Infrared Technology,1995,17(4):31-33,48. |
| |
| Authors: | Shao Shiping Xue Nanping |
| |
| Abstract: | |
| |
| Keywords: | Minority carrier lifetime Small light spot technique HgCdTe |
| 本文献已被 CNKI 维普 等数据库收录！ |
|
