纳米MOSFET的多栅结构和应变硅纳米线结构 |
| |
作者姓名: | 季小明 韩伟华 张严波 陈燕坤 杨富华 |
| |
作者单位: | 中国科学院半导体研究所半导体集成技术工程研究中心,北京,100083 |
| |
基金项目: | 国家重点基础研究发展计划(973计划)资助项目(2010CB934104) |
| |
摘 要: | 介绍了在进入22 nm技术节点后MOSFET器件的两个发展方向,即多栅结构和应变硅纳米线结构.首先通过分析特征长度与有效栅极数量的关系,表明多栅结构器件可以有效增强栅极对沟道的控制,抑制短沟道效应,接近理想的亚阈值斜率;然后分析了应变对能带结构的影响,从理论上论述了应变沟道可以显著提高载流子迁移率;最后介绍了悬浮硅纳米...
|
关 键 词: | 场效应晶体管 多栅结构 应变 硅纳米线 围栅 |
本文献已被 CNKI 万方数据 等数据库收录! |
|